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樣品尺寸

40x40x10mm

掃描器

3x3x1um ( ± 10%); 10x10x2um( ± 10%); 50x50x3 um ( ± 10%)

最小掃描步長

0.0004 nm; 0.0011 nm; 0.006 nm

掃描類型

樣品掃描式

SPM頭部

AFM
STM:
30pA - 50nA, 4 p時的ARMS 噪音 (標準的前置放大器),
10pA - 5nA, 1.5 p時的ARMS噪音 (低電流前置放大器)
剪切力

光學觀察系統(tǒng)

數(shù)值孔徑 0.1
放大倍數(shù)58x to 578x
水平視野 5,1~ 0,51mm

控制系統(tǒng)

SPM 控制箱

振動隔離系統(tǒng)

集成有被動隔離系統(tǒng)
如果需要也可用主動隔離系統(tǒng)

項目

Solver P47 優(yōu)點

操作模式

1.合理的操作模式： 
a. 擴展電阻成像：這個模式在表征半導體的應用中非常有用，因為在該模式下，我們可以利用W2C 或TiO涂層的硅懸臂來測得樣品上某一點的導電率，然后和該點的表明形貌進行比較。 
b.  粘附力模式：在掃描過程中，可以同時得到力－距離曲線和力的值。 
c.  剪切力模式：可以用來實現(xiàn)SNOW系統(tǒng)。 
d. SKM對半導體表面成分分析十分有用。 
e. RM和電壓刻蝕：利用這兩個模式可以在納米尺度實現(xiàn)機械和電壓表面修飾。 
2.集成測量頭 
在一次掃描過程中，可以同時得到4種不同的信息。

掃描器

NT-MDT提供一套用于校正的標準光柵(6片)，用其進行掃描器的校正和針尖質量的控制。。

樣品大小

大樣品也可以進行測量。

光學觀測系統(tǒng)

多樣的光學觀測系統(tǒng)配置可以完全滿足客戶的需求。

針尖與樣品的驅近

1. 驅近系統(tǒng)的機械設計可使得經過幾次驅近之后仍然能獲得相同的檢測區(qū)域。掃描位移大約為500nm，這個特點可以讓您在幾周內仍然能夠研究相同的樣品區(qū)域。 
2. 在完成驅近之后，可以對所要檢測的區(qū)域進行自動掃描，因此實驗人員只需很短的時間便可以在SPM上獲得檢測結果。 
3. 允許手動驅近。

電子學

每個軸(X,Y和Z)通過2個16位DAC來實現(xiàn)22位的掃描精度，再加上極低的系統(tǒng)噪音，所以Solver使用50mm的掃描器也能實現(xiàn)原子級分辨率。

計算機

我們的顯微鏡可以在任何兼容計算機機上進行操作。如果您不想購買額外的計算機，那么您還可以將這臺用于SPM的計算機用于其他用途。

軟件

多樣的圖像處理方法； 
圖像處理軟件可以免費在http://www.ntmdt.ru網站上下載； 
可以處理DI,PSI, Topometrix和其他SPM廠家的數(shù)據(jù)文件樣本； 
可以根據(jù)用戶需要來定制軟件。

隔震系統(tǒng)

在通常的實驗室中，不需要增加額外的隔震系統(tǒng)(在通常的實驗室環(huán)境下就可以得到原子級圖像)。

其他優(yōu)點

鈦合金結構和獨特的SPM測量系統(tǒng)設計提供了最低的熱漂移，讓您可以打開系統(tǒng)之后馬上就可以開始測量了。 
在這方面，NT-MDT盡全力滿足客戶的期望。